| Item type |
ディスカッションペーパー / Discussion Paper(1) |
| 公開日 |
2013-02-04 |
| タイトル |
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タイトル |
Localized knowledge spillovers and patent citations: A distance-based approach (revised version) |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
localized knowledge spillovers |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
distance-based tests |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
microgeographic data |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
K-density |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
patent citations |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
control patents |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
sensitivity analysis |
| 資源タイプ |
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資源タイプ |
technical report |
| ID登録 |
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ID登録 (DOI) |
10.24545/00001105 |
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ID登録タイプ |
JaLC |
| 著者 |
MURATA, Yasusada
NAKAJIMA, Ryo
OKAMOTO, Ryosuke
TAMURA, Ryuichi
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| 著者別名 |
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識別子Scheme |
WEKO |
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識別子 |
6681 |
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姓名 |
村田, 安寧 |
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言語 |
ja |
| 著者別名 |
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識別子Scheme |
WEKO |
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識別子 |
6682 |
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姓名 |
中嶋, 亮 |
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言語 |
ja |
| 著者別名 |
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識別子Scheme |
WEKO |
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識別子 |
6683 |
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姓名 |
岡本, 亮介 |
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言語 |
ja |
| 著者別名 |
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識別子Scheme |
WEKO |
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識別子 |
6684 |
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姓名 |
田村, 龍一 |
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言語 |
ja |
| 著者所属 |
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値 |
日本大学大学院総合科学研究科 / Advanced Research Institute for the Sciences and Humanities, Nihon University |
| 著者所属 |
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値 |
慶應義塾大学経済学部 / Department of Economics, Keio University |
| 著者所属 |
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値 |
政策研究大学院大学 / National Graduate Institute for Policy Studies |
| 著者所属 |
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値 |
横浜国立大学成長戦略研究センター / Center for Economic Growth Strategy, Yokohama National University |
| 分野 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
経済学 / Economics |
| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
We develop a new distance-based test of localized knowledge spillovers that embeds the concept of control patents. Using microgeographic data, we identify localization distance for each technology class while allowing for spillovers across geographic units. We revisit the debate by Thompson and Fox-Kean (2005a,b) and Henderson, Jaffe and Trajtenberg (2005) on the existence of localized knowledge spillovers, and find solid evidence supporting localization even when using fine-grained controls. We further relax the assumption of perfect controls, and show that our distance-based test detects localization for the majority of technology classes unless hidden biases induced by imperfect controls are extremely large. |
| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
JEL Classification Codes: O31, R12 |
| 発行年 |
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値 |
2013-01 |
| 書誌情報 |
en : GRIPS Discussion Papers
Report No. DP12-18,
発行日 2013-02-04
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| 出版者 |
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出版者 |
GRIPS Policy Research Center |
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言語 |
en |
| 関連サイト |
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関連タイプ |
isIdenticalTo |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
https://ideas.repec.org/p/ngi/dpaper/12-18.html |
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関連名称 |
https://ideas.repec.org/p/ngi/dpaper/12-18.html |
| 著者情報 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
https://www.grips.ac.jp/list/jp/facultyinfo/okamoto_ryosuke/ |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
AM |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa |
DP12-18.pdf (536.8 kB)
